طیف‌سنجی فلورسانس پرتو ایکس ۲۰۱۲
X-Ray Fluorescence Spectrometry 2012

طیف‌سنجی فلورسانس اشعه ایکس، یکی از قدرتمندترین و انعطاف‌پذیرترین تکنیک‌های موجود برای تجزیه و تحلیل و شناسایی مواد در دنیای امروز، در طول دهه‌ی گذشته دستخوش تغییرات عمده‌ای شده است.

ویرایش دوم کتاب *طیف‌سنجی فلورسانس اشعه ایکس* که به‌طور کامل بازبینی و ۳۰% گسترش یافته است، آخرین روندهای صنعتی و علمی را در تمامی زمینه‌ها در بر می‌گیرد. این ویرایش، تمامی مطالب قبلی را به‌روزرسانی کرده و فصل‌های جدیدی را به موضوعاتی مانند تاریخچه‌ی طیف‌سنجی فلورسانس اشعه ایکس، طراحی طیف‌سنج‌های اشعه ایکس، کاربردهای پیشرفته و طیف‌های اشعه ایکس اضافه می‌کند.

ران جنکینز با بهره‌گیری از تجربه‌ی گسترده‌ی خود در آموزش و مشاوره به متخصصان صنعت، این مبحث را به شیوه‌ای روشن و مختصر ارائه می‌دهد. او ابتدا به جنبه‌های اساسی اشعه ایکس، سپس به روش‌شناسی طیف‌سنجی فلورسانس اشعه ایکس و ابزارهای موجود می‌پردازد. او همچنین به مقایسه‌ی بین طیف‌سنج‌های پراش طول موجی و پراش انرژی و همچنین ارائه‌ی گام به گام دستورالعمل‌های تکنیک‌های طیف‌سنجی اشعه ایکس برای تجزیه و تحلیل کیفی و کمی – از آماده‌سازی نمونه تا کاربردهای صنعتی واقعی – می‌پردازد.

ویرایش دوم کتاب *طیف‌سنجی فلورسانس اشعه ایکس* که مورد تایید انجمن شیمی آمریکا و مرکز بین‌المللی داده‌های پراش است، مقدمه‌ای ایده‌آل برای تازه‌واردان به این حوزه و مرجعی ارزشمند برای متخصصان باتجربه‌ی طیف‌سنجی – در تجزیه و تحلیل شیمیایی، زمین‌شناسی، متالورژی و علم مواد – به شمار می‌رود.

مروری به‌روز بر تکنیک‌های طیف‌سنجی اشعه ایکس. این کتاب راهنمای اثبات شده برای متخصصان صنعت، به طور کامل به‌روزرسانی و گسترش یافته است تا پیشرفت‌های تجزیه و تحلیل اشعه ایکس را در طول دهه گذشته منعکس کند. ویرایش دوم کتاب *طیف‌سنجی فلورسانس اشعه ایکس* شامل موارد زیر است:

• تاریخچه طیف‌سنجی فلورسانس اشعه ایکس – جدید در این ویرایش.
• بررسی انتقادی از مفیدترین طیف‌سنج‌های اشعه ایکس.
• تکنیک‌ها و رویه‌های تجزیه و تحلیل کمی و کیفی.
• کاربردهای مدرن و روندهای صنعتی.
• طیف‌های اشعه ایکس – جدید در این ویرایش.

X-ray fluorescence spectroscopy, one of the most powerful and flexible techniques available for the analysis and characterization of materials today, has gone through major changes during the past decade.

Fully revised and expanded by 30%, X-Ray Fluorescence Spectrometry, Second Edition incorporates the latest industrial and scientific trends in all areas. It updates all previous material and adds new chapters on such topics as the history of X-ray fluorescence spectroscopy, the design of X-ray spectrometers, state-of-the-art applications, and X-ray spectra.

Ron Jenkins draws on his extensive experience in training and consulting industry professionals for this clear and concise treatment, covering first the basic aspects of X rays, then the methodology of X-ray fluorescence spectroscopy and available instrumentation. He offers a comparison between wavelength and energy dispersive spectrometers as well as step-by-step guidelines to X-ray spectrometric techniques for qualitative and quantitative analysis-from specimen preparation to real-world industrial application.

Favored by the American Chemical Society and the International Centre for Diffraction Data, X-Ray Fluorescence Spectrometry, Second Edition is an ideal introduction for newcomers to the field and an invaluable reference for experienced spectroscopists-in chemical analysis, geology, metallurgy, and materials science.

An up-to-date review of X-ray spectroscopic techniques. This proven guidebook for industry professionals is thoroughly updated and expanded to reflect advances in X-ray analysis over the last decade. X-Ray Fluorescence Spectrometry, Second Edition includes:

• The history of X-ray fluorescence spectrometry-new to this edition.
• A critical review of the most useful X-ray spectrometers.
• Techniques and procedures for quantitative and qualitative analysis.
• Modern applications and industrial trends.
• X-ray spectra-new to this edition.