Sale
آزمون های شتاب دهنده عمر برای دستگاه های تک مصرفی: جمع آوری و تحلیل داده ها ۲۰۲۱
Accelerated Life Testing of One-shot Devices: Data Collection and Analysis 2021
دانلود کتاب آزمون های شتاب دهنده عمر برای دستگاه های تک مصرفی: جمع آوری و تحلیل داده ها ۲۰۲۱ (Accelerated Life Testing of One-shot Devices: Data Collection and Analysis 2021) با لینک مستقیم و فرمت pdf (پی دی اف)
| نویسنده |
Narayanaswamy Balakrishnan, Man Ho Ling, Hon Yiu So |
|---|
ناشر:
Wiley
۳۰ هزار تومان تخفیف با کد «OFF30» برای اولین خرید
| سال انتشار |
2021 |
|---|---|
| زبان |
English |
| نوع فایل |
|
| حجم |
3 Mb |
🏷️ قیمت اصلی: 200,000 تومان بود.129,000 تومانقیمت فعلی: 129,000 تومان.
هوشمصنوعی ترجمه کالیبو
توضیحات
معرفی کتاب آزمون های شتاب دهنده عمر برای دستگاه های تک مصرفی: جمع آوری و تحلیل داده ها ۲۰۲۱
راهنمای دقیقی در مورد تکنیک های تحلیل آماری و روش های استنباطی برای تست عمر دستگاه های تک کاره ارائه می دهد.
برآورد قابلیت اطمینان دستگاه های تک کاره – مانند دستگاه های الکترو-انفجاری، کپسول های آتش نشانی، کیسه های هوای اتومبیل و سایر واحدهایی که عملکرد خود را فقط یک بار انجام می دهند – چالش های تحلیلی منحصر به فردی را برای رویکردهای متداول ایجاد می کند. به دلیل نحوه سانسور دستگاه های تک کاره، زمان دقیق خرابی آن ها را نمی توان از طریق تست به دست آورد. وضعیت یک دستگاه تک کاره فقط در زمان بازرسی خاص ثبت می شود و در نتیجه کمبود داده های عمر جمع آوری شده در تست های عمر وجود دارد.
تست عمر شتاب یافته دستگاه های تک کاره: جمع آوری و تحلیل داده ها به مسائل اساسی مدل سازی آماری مبتنی بر داده های جمع آوری شده از تست های عمر شتاب یافته دستگاه های تک کاره می پردازد. نویسندگان روش ها و مراحل استنباطی برای برنامه ریزی تست های عمر شتاب یافته ارائه می دهند و تکنیک های آماری پیشرفته ای را برای کمک به متخصصان قابلیت اطمینان در غلبه بر مشکلات تخمین در دنیای واقعی شرح می دهند. مباحث مورد بحث شامل استنباط احتمال، مدل های ریسک های رقابتی، دستگاه های تک کاره با اجزای وابسته، انتخاب مدل و موارد دیگر است. این منبع عملی به خوانندگان امکان می دهد تا این تکنیک ها را به داده های عمر خود اعمال کنند و به دقیق ترین استنباط ممکن برسند:
- راهنمایی تخصصی در مورد تحلیل جامع داده های دستگاه های تک کاره تحت آزمایش عمر شتاب یافته ارائه می دهد
- بحث می کند که چگونه آزمایش ها را برای جمع آوری داده ها از آزمایش های عمر شتاب یافته کارآمد در حالی که به محدودیت های بودجه پایبند می مانید، طراحی کنید
- به خوانندگان کمک می کند تا طرح های بهینه برای آزمایش های عمر شتاب یافته تنش ثابت و تنش گام به گام، تست های عمر اصلی که به طور معمول در عمل قابلیت اطمینان استفاده می شوند، ایجاد کنند
- کد R را در هر فصل برای استفاده خوانندگان در تحلیل های خود از داده های تست دستگاه های تک کاره قرار می دهد
- دارای مطالعات موردی متعدد و مثال های عملی در سراسر کتاب است
- موضوعات مهم، مشکلات و جهت های تحقیقات آینده در تئوری و عمل قابلیت اطمینان را برجسته می کند
تست عمر شتاب یافته دستگاه های تک کاره: جمع آوری و تحلیل داده ها برای دانشجویان تحصیلات تکمیلی، محققان و مهندسان فعال در تحلیل داده های تست عمر شتاب یافته، مطالعه ای ضروری است.
فهرست کتاب:
۱. جلد
۲. فهرست مطالب
۳. صفحه عنوان
۴. حق تکثیر
۵. تقدیمنامه
۶. پیشگفتار
۷. درباره وبسایت همراه
۸. فصل ۱: دادههای آزمون دستگاه تکشات
۹. فصل ۲: استنباط درستنمایی
۱۰. فصل ۳: استنباط بیزی
۱۱. فصل ۴: تحلیل اشتباهمشخصسازی مدل و انتخاب مدل
۱۲. فصل ۵: استنباط مقاوم
۱۳. فصل ۶: مدلها و استنباط نیمهپارامتری
۱۴. فصل ۷: طراحی بهینه آزمایشها
۱۵. فصل ۸: طراحی آزمونهای شتابدهنده تنش پلهای ساده
۱۶. فصل ۹: مدلهای ریسکهای رقابتی
۱۷. فصل ۱۰: دستگاههای تکشات با اجزای وابسته
۱۸. فصل ۱۱: نتیجهگیریها و مسیرهای آتی
۱۹. پیوست الف: اشتقاق
۲۰. پیوست ب: ماتریس اطلاعات مشاهدهشده
۲۱. پیوست ج: پارامترهای غیرقابل تشخیص برای SSALTها تحت توزیع وایبول
۲۲. پیوست د: طراحی بهینه تحت توزیعهای وایبول با ثابت
۲۳. پیوست ه: انتظارات شرطی برای مدل ریسکهای رقابتی تحت توزیع نمایی
۲۴. پیوست و: تاو کندال برای کوپولا فرانک
۲۵. کتابشناسی
۲۶. فهرست نام نویسندگان
۲۷. فهرست موضوعی
۲۸. توافقنامه مجوز کاربر نهایی
توضیحات(انگلیسی)
Provides authoritative guidance on statistical analysis techniques and inferential methods for one-shot device life-testing
Estimating the reliability of one-shot devices—electro-expolsive devices, fire extinguishers, automobile airbags, and other units that perform their function only once—poses unique analytical challenges to conventional approaches. Due to how one-shot devices are censored, their precise failure times cannot be obtained from testing. The condition of a one-shot device can only be recorded at a specific inspection time, resulting in a lack of lifetime data collected in life-tests.
Accelerated Life Testing of One-shot Devices: Data Collection and Analysis addresses the fundamental issues of statistical modeling based on data collected from accelerated life-tests of one-shot devices. The authors provide inferential methods and procedures for planning accelerated life-tests, and describe advanced statistical techniques to help reliability practitioners overcome estimation problems in the real world. Topics covered include likelihood inference, competing-risks models, one-shot devices with dependent components, model selection, and more. Enabling readers to apply the techniques to their own lifetime data and arrive at the most accurate inference possible, this practical resource:
- Provides expert guidance on comprehensive data analysis of one-shot devices under accelerated life-tests
- Discusses how to design experiments for data collection from efficient accelerated life-tests while conforming to budget constraints
- Helps readers develops optimal designs for constant-stress and step-stress accelerated life-tests, mainstream life-tests commonly used in reliability practice
- Includes R code in each chapter for readers to use in their own analyses of one-shot device testing data
- Features numerous case studies and practical examples throughout
- Highlights important issues, problems, and future research directions in reliability theory and practice
Accelerated Life Testing of One-shot Devices: Data Collection and Analysis is essential reading for graduate students, researchers, and engineers working on accelerated life testing data analysis.
Table of Contents
1. Cover
2. Table of Contents
3. Title Page
4. Copyright
5. Dedication
6. Preface
7. About the Companion Website
8. Chapter 1: One‐Shot Device Testing Data
9. Chapter 2: Likelihood Inference
10. Chapter 3: Bayesian Inference
11. Chapter 4: Model Mis‐Specification Analysis and Model Selection
12. Chapter 5: Robust Inference
13. Chapter 6: Semi‐Parametric Models and Inference
14. Chapter 7: Optimal Design of Tests
15. Chapter 8: Design of Simple Step‐Stress Accelerated Life‐Tests
16. Chapter 9: Competing‐Risks Models
17. Chapter 10: One‐Shot Devices with Dependent Components
18. Chapter 11: Conclusions and Future Directions
19. Appendix A: Derivation of
20. Appendix B: Observed Information Matrix
21. Appendix C: Non‐Identifiable Parameters for SSALTs Under Weibull Distribution
22. Appendix D: Optimal Design Under Weibull Distributions with Fixed
23. Appendix E: Conditional Expectations for Competing Risks Model Under Exponential Distribution
24. Appendix F: Kendall’s Tau for Frank Copula
25. Bibliography
26. Author Index
27. Subject Index
28. End User License Agreement
دیگران دریافت کردهاند
تحول دیجیتال شتابیافته: چگونه سازمانهای تثبیتشده میتوانند در عصر دیجیتال مزیت رقابتی کسب کنند ۲۰۲۳
Accelerated Digital Transformation: How Established Organizations Can Gain Competitive Advantage in the Digital Age 2023
اصلاحات سریع ارضی، معدنکاری، رشد، بیکاری و نابرابری در آفریقای جنوبی: لزوم مداخلات سیاستی جسورانه در سمت عرضه ۲۰۲۰
Accelerated Land Reform, Mining, Growth, Unemployment and Inequality in South Africa: A Case for Bold Supply Side Policy Interventions 2020
سایر کتابهای ناشر
✨ ضمانت تجربه خوب مطالعه
بازگشت کامل وجه
در صورت مشکل، مبلغ پرداختی بازگردانده می شود.
دانلود پرسرعت
دانلود فایل کتاب با سرعت بالا
ارسال فایل به ایمیل
دانلود مستقیم به همراه ارسال فایل به ایمیل.
پشتیبانی ۲۴ ساعته
با چت آنلاین و پیامرسان ها پاسخگو هستیم.
ضمانت کیفیت کتاب
کتاب ها را از منابع معتیر انتخاب می کنیم.
