پیش‌بینی قابلیت اطمینان برای میکروالکترونیک ۲۰۲۴
Reliability Prediction for Microelectronics 2024

مجموعه انتشارات وایلی در مهندسی کیفیت و قابلیت اطمینان

با این کتاب پیشگامانه، رویکرد خود به ارزیابی قابلیت اطمینان را متحول کنید

ارزیابی قابلیت اطمینان، جنبه‌ای حیاتی از مهندسی است که بدون آن، عملکرد ایمن در محدوده پارامترهای مورد نظر در طول عمر ماشین‌آلات قابل تضمین نیست. به‌ویژه در مورد میکروالکترونیک، چالش‌های ارزیابی قابلیت اطمینان قابل توجه است و روش‌های آماری برای ایجاد استانداردهای قابلیت اطمینان میکروالکترونیکی پیچیده هستند. با توجه به اهمیت روزافزون دستگاه‌های میکروالکترونیکی در مقیاس نانو در زندگی مدرن، درک ابزارهای موجود برای ارزیابی قابلیت اطمینان از هر زمان دیگری مهم‌تر است.

کتاب *پیش‌بینی قابلیت اطمینان برای میکروالکترونیک* این نیاز را با مجموعه‌ای از ابزارها برآورده می‌کند که بر اساس اصول فیزیک قابلیت اطمینان و مفهوم عمر مفید باقیمانده (RUL) ساخته شده‌اند. این کتاب، “فیزیک شکست” را به عنوان موضوع اصلی خود در نظر می‌گیرد و درک کاملی از رویکردهای مرسوم ارزیابی قابلیت اطمینان را با دانش عمیق از نقاط کور آن‌ها ترکیب می‌کند. این کتاب، مهندسان و محققان را قادر می‌سازد تا بر دهه‌ها فیزیک قابلیت اطمینان نادرست غلبه کرده و کار خود را بر اساس یک بنیان مهندسی استوار قرار دهند.

خوانندگان کتاب *پیش‌بینی قابلیت اطمینان برای میکروالکترونیک* همچنین موارد زیر را خواهند یافت:
* تمرکز بر ابزارهای مورد نیاز برای انجام ارزیابی‌های قابلیت اطمینان در شرایط عملیاتی واقعی
* بحث مفصل درباره موضوعاتی از جمله مبانی شکست، آزمایش قابلیت اطمینان، محاسبه ضریب شتاب و موارد دیگر
* فیزیک جدید چندگانه شکست در فناوری‌های DSM، شامل TDDB، EM، HCI و BTI

کتاب *پیش‌بینی قابلیت اطمینان برای میکروالکترونیک* برای مهندسان قابلیت اطمینان و کیفیت، مهندسان طراحی و دانشجویان مهندسی پیشرفته که به دنبال درک این حوزه حیاتی از طراحی و آزمایش محصول هستند، ایده‌آل است.

Wiley Series in Quality & Reliability Engineering

REVOLUTIONIZE YOUR APPROACH TO RELIABILITY ASSESSMENT WITH THIS GROUNDBREAKING BOOK

Reliability evaluation is a critical aspect of engineering, without which safe performance within desired parameters over the lifespan of machines cannot be guaranteed. With microelectronics in particular, the challenges to evaluating reliability are considerable, and statistical methods for creating microelectronic reliability standards are complex. With nano-scale microelectronic devices increasingly prominent in modern life, it has never been more important to understand the tools available to evaluate reliability.

Reliability Prediction for Microelectronics meets this need with a cluster of tools built around principles of reliability physics and the concept of remaining useful life (RUL). It takes as its core subject the ‘physics of failure’, combining a thorough understanding of conventional approaches to reliability evaluation with a keen knowledge of their blind spots. It equips engineers and researchers with the capacity to overcome decades of errant reliability physics and place their work on a sound engineering footing.

Reliability Prediction for Microelectronics readers will also find:

• Focus on the tools required to perform reliability assessments in real operating conditions
• Detailed discussion of topics including failure foundation, reliability testing, acceleration factor calculation, and more
• New multi-physics of failure on DSM technologies, including TDDB, EM, HCI, and BTI

Reliability Prediction for Microelectronics is ideal for reliability and quality engineers, design engineers, and advanced engineering students looking to understand this crucial area of product design and testing.