Sale
آنالیز کمّی میکروبیم ۲۰۱۷
Quantitative Microbeam Analysis 2017
دانلود کتاب آنالیز کمّی میکروبیم ۲۰۱۷ (Quantitative Microbeam Analysis 2017) با لینک مستقیم و فرمت pdf (پی دی اف) و ترجمه فارسی
| نویسنده |
A.G Fitzgerald, B.E Storey, D.J Fabian |
|---|
ناشر:
Routledge
۳۰ هزار تومان تخفیف با کد «OFF30» برای اولین خرید
| سال انتشار |
2017 |
|---|---|
| زبان |
English |
| تعداد صفحهها |
350 |
| نوع فایل |
|
| حجم |
22.0 MB |
🏷️ قیمت اصلی: 200,000 تومان بود.129,000 تومانقیمت فعلی: 129,000 تومان.
هوشمصنوعی ترجمه کالیبو
توضیحات
معرفی کتاب آنالیز کمّی میکروبیم ۲۰۱۷
آنالیز کمی باریکهی میکرونی، مقدمهای جامع بر حوزهی آنالیز کمی باریکهی میکرونی (MQA) ارائه میدهد. MQA تکنیکی است که برای تجزیه و تحلیل مقادیر زیراتمی مواد پرتابشده از یک سطح توسط لیزر یا باریکهی ذرات استفاده میشود و اطلاعاتی در مورد ساختار و ترکیب مواد ارائه میدهد. این کتاب، که با مشارکت متخصصان بینالمللی تدوین شده، از نظر گستردگی تکنیکهای تحلیلی باریکهی میکرونی که پوشش میدهد، بینظیر است. برای هر تکنیک، ابتدا پسزمینهی نظری آن را توسعه میدهد، سپس به جزئیات عملی مربوط به انتخاب تجهیزات میپردازد و در نهایت، پیشرفتهای فعلی را شرح میدهد. این کتاب بر پیشرفتهای مربوط به طیفسنجی الکترون اوژه در میکروسکوپهای الکترونی روبشی و میکروسکوپهای الکترونی عبوری و همچنین پیشرفتها در تصویربرداری تحلیلی سطح و برهمکنشهای سطح با باریکهی یونی شتابدادهشده، تأکید دارد.
فهرست کتاب:
۱. جلد
۲. صفحه عنوان فرعی
۳. صفحه عنوان
۴. صفحه حق نشر
۵. فهرست مطالب
۶. کمیسازی در AES و XPS
۷. تصویربرداری تحلیلی سطح
۸. ساختار الکترونی و طیفسنجی الکترونی
۹. طیفسنجی الکترون اوژه در STEM
۱۰. طیفسنجی اتلاف انرژی الکترون—EELS
۱۱. ریزتجزیه و تصویربرداری عناصر سبک
۱۲. مقایسهای بین روشهای کمیسازی و تکنیکهای تحلیلی
۱۳. تجزیه و تحلیل و پردازش دادهها
۱۴. میکروسکوپی و ریزتجزیه مواد عایق
۱۵. برهمکنشهای نمونه-الکترون
۱۶. ریزتجزیه پرتو الکترونی اشعه ایکس
۱۷. آنالیز پراش انرژی اشعه ایکس (EDX) در TEM/STEM
۱۸. آنالیز و تصویربرداری توسط گسیل اشعه ایکس ناشی از پروتون (PIXE)
۱۹. تکنیکهای تحلیلی پرتو یونی—پراکندگی برگشتی رادرفورد، پسزنی الاستیک و آنالیز واکنش هستهای
۲۰. آنالیز کمی جامدات توسط SIMS و SNMS
۲۱. SIMS استاتیک
۲۲. کاربردهای آنالیز سطح، فصل مشترک و لایههای نازک در یک آزمایشگاه تحقیقاتی صنعتی
۲۳. گسیل الکترون اوژه ناشی از یون از جامدات
۲۴. طیفسنجی جرمی یونیزاسیون رزونانسی (RIMS)
۲۵. پیوست: لیستی از سرواژهها
۲۶. مقالات ارائه شده توسط دانشجویان
۲۷. لیست شرکتکنندگان
۲۸. فهرست نمایه
توضیحات(انگلیسی)
Quantitative Microbeam Analysis provides a comprehensive introduction to the field of quantitative microbeam analysis (MQA). MQA is a technique used to analyze subatomic quantities of materials blasted from a surface by a laser or particle beam, providing information on the structure and composition of the material. Contributed to by international experts, the book is unique in the breadth of microbeam analytical techniques covered. For each technique, it develops the theoretical background, discusses practical details relating to choice of equipment, and describes the current advances. The book highlights developments relating to Auger electron spectroscopy in scanning electron microscopes and transmission electron microscopes and advances in surface analytical imaging and accelerated ion beam-surface interactions.
Table of Contents
1. Cover
2. Half Title
3. Title Page
4. Copyright Page
5. Table of Contents
6. Quantification in AES and XPS
7. Surface Analytical Imaging
8. Electronic Structure and Electron Spectroscopy
9. Auger Electron Spectroscopy in the STEM
10. Electron Energy-Loss Spectroscopy—EELS
11. Light Element Microanalysis and Imaging
12. A Comparison of Quantification Methods and Analytical Techniques
13. Data Analysis and Processing
14. Microscopy and Microanalysis of Insulating Materials
15. Electron Specimen Interactions
16. Electron Probe X-ray Microanalysis
17. Energy Dispersive X-Ray Analysis (EDX) in the TEM/STEM
18. Analysis and Imaging by Proton-Induced X-Ray Emission (PIXE)
19. Ion-Beam Analytical Techniques—Rutherford Backscattering, Elastic Recoil and Nuclear Reaction Analysis
20. Quantitative Analysis of Solids by SIMS and SNMS
21. Static SIMS
22. Applications of Surface, Interface and Thin Film Analysis in an Industrial Research Laboratory
23. Ion-Induced Auger Electron Emission From Solids
24. Resonance Ionisation Mass Spectrometry (RIMS)
25. Appendix: a list of Acronyms
26. Contributed papers by students
27. List of Participants
28. Index
دیگران دریافت کردهاند
سایر کتابهای ناشر
✨ ضمانت تجربه خوب مطالعه
بازگشت کامل وجه
در صورت مشکل، مبلغ پرداختی بازگردانده می شود.
دانلود پرسرعت
دانلود فایل کتاب با سرعت بالا
ارسال فایل به ایمیل
دانلود مستقیم به همراه ارسال فایل به ایمیل.
پشتیبانی ۲۴ ساعته
با چت آنلاین و پیامرسان ها پاسخگو هستیم.
ضمانت کیفیت کتاب
کتاب ها را از منابع معتیر انتخاب می کنیم.
