تکنیک‌های تحلیلی لایه‌های نازک: رساله‌ای در علم و فناوری مواد، جلد ۲۷ ۲۰۱۳
Analytical Techniques for Thin Films: Treatise on Materials Science and Technology, Vol. 27 2013

رساله‌ای در باب علم و فناوری مواد، جلد ۲۷: فنون تحلیلی لایه‌های نازک، مجموعه‌ای از تکنیک‌های تحلیلی توسعه‌یافته برای لایه‌های نازک و سطوح مشترک را پوشش می‌دهد، تکنیک‌هایی که همگی مبتنی بر پدیده‌ها و نظریه‌های پراکندگی و برانگیختگی هستند.

این کتاب به بررسی تکنیک‌های پرتو فوتونی و اشعه ایکس، تکنیک‌های پرتو الکترونی و تکنیک‌های پرتو یونی می‌پردازد.

دانشمندان علم مواد، مهندسان مواد، مهندسان شیمی و فیزیکدانان این کتاب را بسیار ارزشمند خواهند یافت.

Treatise on Materials Science and Technology, Volume 27: Analytical Techniques for Thin Films covers a set of analytical techniques developed for thin films and interfaces, all based on scattering and excitation phenomena and theories. The book discusses photon beam and X-ray techniques; electron beam techniques; and ion beam techniques. Materials scientists, materials engineers, chemical engineers, and physicists will find the book invaluable.