پیشرفت‌ها در هوش مصنوعی و اینترنت اشیا برای تولید تراشه و پیشگیری از نقص ۲۰۲۴
Advancements in AI and IoT for Chip Manufacturing and Defect Prevention 2024

دانلود کتاب پیشرفت‌ها در هوش مصنوعی و اینترنت اشیا برای تولید تراشه و پیشگیری از نقص ۲۰۲۴ (Advancements in AI and IoT for Chip Manufacturing and Defect Prevention 2024) با لینک مستقیم و فرمت pdf (پی دی اف) و ترجمه فارسی

نویسنده

Rupal Jain

ناشر: CRC Press
voucher-1

۳۰ هزار تومان تخفیف با کد «OFF30» برای اولین خرید

سال انتشار

2024

زبان

English

تعداد صفحه‌ها

152

نوع فایل

pdf

حجم

15.9 MB

🏷️ قیمت اصلی: 200,000 تومان بود.قیمت فعلی: 129,000 تومان.

🏷️ قیمت اصلی: ۳۷۸٬۰۰۰ تومان بود. قیمت فعلی: ۲۹۸٬۰۰۰ تومان.

📥 دانلود نسخه‌ی اصلی کتاب به زبان انگلیسی(PDF)
🧠 به همراه ترجمه‌ی فارسی با هوش مصنوعی 🔗 مشاهده جزئیات

پیش‌خرید با تحویل فوری(⚡️) | فایل کتاب حداکثر تا ۳۰ دقیقه(🕒) پس از ثبت سفارش آماده دانلود خواهد بود.

دانلود مستقیم PDF

ارسال فایل به ایمیل

پشتیبانی ۲۴ ساعته

توضیحات

معرفی کتاب پیشرفت‌ها در هوش مصنوعی و اینترنت اشیا برای تولید تراشه و پیشگیری از نقص ۲۰۲۴

این کتاب، اثری ضروری برای متخصصان صنعت نیمه‌رسانا است که در پی گسترش دانش خود در زمینه فرآیندهای سیلیکونی، درک اهمیت پیشگیری از نقص، و کاوش در روش‌های بهینه‌سازی فرآیندها از طریق کاهش نقص‌ها با استفاده از فناوری‌های هوش مصنوعی و اینترنت اشیا هستند.

در چشم‌انداز پویای تولید نیمه‌رساناها، تمرکز بر فرآیندها و پیشگیری از نقص از اهمیتی اساسی برخوردار است. رویکردهای سنتی بینش‌های ارزشمندی ارائه داده‌اند، اما ظهور فناوری‌های هوش مصنوعی (AI) و اینترنت اشیا (IoT) نویدبخش عصری جدید در استراتژی‌های پیشگیری از نقص است. مهندسان متخصص در هوش مصنوعی و یادگیری ماشین، محققان میان‌رشته‌ای و فارغ‌التحصیلان جوانی که مشتاق ورود به صنعت نیمه‌رسانا هستند نیز این کتاب را ارزشمند خواهند یافت.

این کتاب که با دقت و ظرافت نگاشته شده است، محتوای مختصر و در عین حال روشنگرانه‌ای را ارائه می‌دهد که متناسب با نیازهای خوانندگان پرمشغله امروزی است. این اثر بر نیمه‌رساناها، فرآیندهای تولید و پیشگیری از نقص تأکید دارد و درک جامعی از این زمینه‌های حیاتی ارائه می‌دهد. ادغام هوش مصنوعی و اینترنت اشیا در پیشگیری از نقص در تولید تراشه‌ها، نشان‌دهنده پیشرفتی چشمگیر است.

این کتاب با هدف قرار دادن مهندسان، محققان، متخصصان فناوری و دانشجویان فعال در حوزه نیمه‌رسانا، به عنوان منبعی ارزشمند برای درک تعامل بین نیمه‌رساناها، فرآیندهای تولید، نقص‌ها و پتانسیل تحول‌آفرین ادغام هوش مصنوعی و اینترنت اشیا عمل می‌کند. ابزارهای عملی برای تجزیه و تحلیل خرابی و کنترل پارامترها، همراه با موارد استفاده فرضی و کاربردهای نظری که الهام‌بخش نوآوری هستند، ارائه شده است. این کتاب از طریق بینش‌های میان‌رشته‌ای، مسیری را به سوی آینده‌ای ترسیم می‌کند که در آن نقص‌های تولید نیمه‌رسانا به حداقل رسیده، بهره‌وری به حداکثر رسیده و نوآوری در محل تلاقی فناوری و صنعت شکوفا می‌شود.


فهرست کتاب:

۱. صفحه روی جلد

۲. صفحه عنوان فرعی

۳. صفحه حق چاپ

۴. صفحه عنوان

۵. عنوان مجموعه

۶. فهرست

۷. پیشگفتار

۸. درباره کتاب

۹. درباره نویسنده

۱ مقدمه

۲ بررسی روندهای نوظهور در تولید نیمه هادی

۳ مروری بر تولید نیمه هادی

۴ پارامترهای درون خطی در تولید نیمه هادی

۵ تست الکتریکی در ویفر، دای

۶ مقدمه ای بر بهینه سازی فرآیند در فرآیندهای تولید نیمه هادی

۷ مروری بر هوش مصنوعی و کاربردها در تولید نیمه هادی

۸ مروری بر فناوری ها و کاربردهای اینترنت اشیا

۹ مبانی نقص های نیمه هادی

۱۹. کتابشناسی

۲۰. نمایه

 

توضیحات(انگلیسی)

This is essential reading for semiconductor professionals seeking to expand their knowledge on silicon processes, understand the significance of defect prevention, and explore methods for optimizing processes by reducing defects using AI and IoT technologies.

In the dynamic landscape of semiconductor manufacturing, the focus on processes and defect prevention stands paramount. Traditional approaches have yielded valuable insights, yet the emergence of Artificial Intelligence (AI) and Internet of Things (IoT) technologies heralds a new era in defect prevention strategies. Engineers specializing in AI and machine learning, interdisciplinary researchers, and early graduates aspiring to enter the semiconductor industry will also find this book invaluable.

Meticulously crafted, this book provides concise, yet insightful content tailored to today’s fast-paced readers. It emphasizes semiconductors, manufacturing processes, and defect prevention, offering a comprehensive understanding of these critical areas. The integration of AI and IoT in chip manufacturing defect prevention represents a groundbreaking advancement.

Targeting semiconductor engineers, researchers, technology professionals, and students, this book serves as a valuable resource for understanding the interplay between semiconductors, manufacturing processes, defects, and the transformative potential of AI and IoT integration. Practical tools for failure analysis and parameter control are provided, along with hypothetical use cases and theoretical applications that inspire innovation. Through interdisciplinary insights, this book charts a course toward a future where semiconductor manufacturing defects are minimized, productivity is maximized, and innovation thrives at the intersection of technology and industry.


Table of Contents

1. Cover Page

2. Half Title page

3. Copyright Page

4. Title Page

5. Series Title

6. Contents

7. Preface

8. About the book

9. About the Author

1 Introduction

2 Exploring Emerging Trends in Semiconductor Manufacturing

3 Overview of Semiconductor Manufacturing

4 Inline Parameters in Semiconductor Manufacturing

5 Electrical Testing in Wafer, Die

6 Introduction to Process Optimization in Semiconductor Manufacturing Processes

7 Overview of AI and Applications in Semiconductor Manufacturing

8 Overview of IoT Technologies and Applications

9 Fundamentals of Semiconductor Defects

19. Bibliography

20. Index

دیگران دریافت کرده‌اند

✨ ضمانت تجربه خوب مطالعه

بازگشت کامل وجه

در صورت مشکل، مبلغ پرداختی بازگردانده می شود.

دانلود پرسرعت

دانلود فایل کتاب با سرعت بالا

ارسال فایل به ایمیل

دانلود مستقیم به همراه ارسال فایل به ایمیل.

پشتیبانی ۲۴ ساعته

با چت آنلاین و پیام‌رسان ها پاسخگو هستیم.

ضمانت کیفیت کتاب

کتاب ها را از منابع معتیر انتخاب می کنیم.