تکنیک‌های پیشرفته مشخصه‌یابی سلول‌های خورشیدی لایه‌نازک ۲۰۱۶
Advanced Characterization Techniques for Thin Film Solar Cells 2016

دانلود کتاب تکنیک‌های پیشرفته مشخصه‌یابی سلول‌های خورشیدی لایه‌نازک ۲۰۱۶ (Advanced Characterization Techniques for Thin Film Solar Cells 2016) با لینک مستقیم و فرمت pdf (پی دی اف) و ترجمه فارسی

نویسنده	Daniel Abou-Ras, Thomas Kirchartz, Uwe Rau

ناشر: John Wiley & Sons

دسته: علوم فیزیکی

۳۰ هزار تومان تخفیف با کد «OFF30» برای اولین خرید

سال انتشار	2016
زبان	English
تعداد صفحه‌ها	1224
نوع فایل	pdf
حجم	24.5 MB

🏷️ قیمت اصلی: 200,000 تومان بود.قیمت فعلی: 129,000 تومان.

دانلود مستقیم PDF

ارسال فایل به ایمیل

پشتیبانی ۲۴ ساعته

هوش‌مصنوعی ترجمه کالیبو

توضیحات

معرفی کتاب تکنیک‌های پیشرفته مشخصه‌یابی سلول‌های خورشیدی لایه‌نازک ۲۰۱۶

این کتاب تخصصی به بررسی روش‌های نوین مشخصه‌یابی سلول‌های خورشیدی لایه‌نازک می‌پردازد. این روش‌ها در زمینه تحقیقات و توسعه فتوولتائیک، هم در مراکز علمی و هم در شرکت‌های فعال در این حوزه، کاربرد دارند.

پس از مقدمه‌ای بر فتوولتائیک لایه‌نازک، متخصصان به شرح روش‌های مشخصه‌یابی دستگاهی و مواد، از جمله آنالیز الکترولومینسانس، طیف‌سنجی ظرفیتی، و همچنین روش‌های میکروسکوپی گوناگون می‌پردازند.

در انتهای کتاب، تکنیک‌های شبیه‌سازی ارائه می‌شوند که برای محاسبات ab-initio نیمه‌رساناهای مربوطه و نیز برای شبیه‌سازی دستگاه در حداکثر سه بعد مورد استفاده قرار می‌گیرند. این ویرایش جدید، با تکیه بر یک مفهوم امتحان‌شده، به روش‌های اپتوالکترونیکی گذرا و طیف‌سنجی جریان نوری، مشخصه‌یابی رشد لایه‌نازک به صورت بلادرنگ و درجا، و همچنین شبیه‌سازی‌های مبتنی بر دینامیک مولکولی نیز می‌پردازد.

فهرست کتاب:

۱. روی جلد

۲. صفحه عنوان

۳. حق چاپ

۴. تقدیم

۵. فهرست مطالب

۶. فهرست مشارکت‌کنندگان

۷. پیشگفتار ویرایش دوم

۸. پیشگفتار ویرایش اول

۹. اختصارات

۱۰. جلد ۱

۱۱. جلد ۲

۱۲. نمایه

۱۳. توافقنامه مجوز کاربری نهایی

توضیحات(انگلیسی)

این کتاب تخصصی به بررسی روش‌های نوین مشخصه‌یابی سلول‌های خورشیدی لایه‌نازک می‌پردازد. این روش‌ها هم در زمینه تحقیقات و توسعه فتوولتائیک، چه در حوزه علمی و چه در شرکت‌ها، کاربرد دارند. پس از مقدمه‌ای بر فتوولتائیک لایه‌نازک، متخصصان به شرح روش‌های مشخصه‌یابی دستگاهی و مواد، از جمله آنالیز الکترولومینسانس، طیف‌سنجی ظرفیتی و همچنین روش‌های میکروسکوپی مختلف می‌پردازند. در انتهای کتاب، تکنیک‌های شبیه‌سازی ارائه می‌شوند که برای محاسبات اب-اینیشیو (ab-initio) نیمه‌رساناهای مربوطه و برای شبیه‌سازی دستگاه در حداکثر سه بعد مورد استفاده قرار می‌گیرند. این ویرایش جدید با تکیه بر یک مفهوم امتحان‌شده، به روش‌های اپتوالکترونیکی گذرا و طیف‌سنجی جریان نوری، مشخصه‌یابی رشد لایه‌نازک به صورت بلادرنگ و در محل، و همچنین شبیه‌سازی‌های مبتنی بر دینامیک مولکولی نیز می‌پردازد.