Sale
میکروسکوپ نیروی اتمی ۲۰۱۲
Atomic Force Microscopy 2012
دانلود کتاب میکروسکوپ نیروی اتمی ۲۰۱۲ (Atomic Force Microscopy 2012) با لینک مستقیم و فرمت pdf (پی دی اف) و ترجمه فارسی
| نویسنده |
Greg Haugstad |
|---|
ناشر:
John Wiley & Sons
۳۰ هزار تومان تخفیف با کد «OFF30» برای اولین خرید
| سال انتشار |
2012 |
|---|---|
| زبان |
English |
| تعداد صفحهها |
496 |
| نوع فایل |
|
| حجم |
7.4 MB |
🏷️ قیمت اصلی: 200,000 تومان بود.129,000 تومانقیمت فعلی: 129,000 تومان.
هوشمصنوعی ترجمه کالیبو
توضیحات
معرفی کتاب میکروسکوپ نیروی اتمی ۲۰۱۲
این کتاب، خوانندگان را با ویژگیهای اساسی سطح و نیروهای بین سطحی وابسته به فاصله آشنا میکند؛ مفاهیمی که برای به دست آوردن حتی سادهترین دادهها از یک میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) ضروری هستند. مطالب کتاب به تدریج پیچیدهتر میشوند و جزئیاتی از جمله کالیبراسیون، منشاء فیزیکی خطاها و محدودیتهای سیگنال به نویز را شرح میدهند. پوشش مطالب شامل تصویربرداری، شناسایی ویژگیهای مواد، تجزیه و تحلیل رابط بین مایعات، تریبولوژی و تعاملات الکترومغناطیسی است.
“مطالب تکمیلی این کتاب را میتوانید با وارد کردن شابک 9780470638828 در booksupport.wiley.com بیابید.”
فهرست کتاب:
۱. روی جلد
۲. صفحه عنوان
۳. حق چاپ
۴. تقدیم
۵. پیشگفتار
۶. قدردانی
۷. فصل ۱: مروری بر AFM
۸. فصل ۲: برهمکنشهای وابسته به فاصله
۹. فصل ۳: اندازهگیری نیرو وابسته به Z با AFM
۱۰. فصل ۴: تصویربرداری توپوگرافی
۱۱. فصل ۵: بررسی خواص مواد I: تصویربرداری فازی
۱۲. فصل ۶: بررسی خواص مواد II: نانومکانیک چسبندگی و نقشهبرداری برهمکنشهای وابسته به فاصله
۱۳. فصل ۷: بررسی خواص مواد III: روشهای نیروی جانبی
۱۴. فصل ۸: پسپردازش داده و تحلیل آماری
۱۵. فصل ۹: روشهای پیشرفته نیروی دینامیکی
۱۶. پیوستها
۱۷. نمایه
توضیحات(انگلیسی)
This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM). The material becomes progressively more complex throughout the book, explaining details of calibration, physical origin of artifacts, and signal/noise limitations. Coverage spans imaging, materials property characterization, in-liquid interfacial analysis, tribology, and electromagnetic interactions.
“Supplementary material for this book can be found by entering ISBN 9780470638828 on booksupport.wiley.com”
Table of Contents
1. Cover
2. Title Page
3. Copyright
4. Dedication
5. Preface
6. Acknowledgments
7. Chapter 1: Overview of AFM
8. Chapter 2: Distance-Dependent Interactions
9. Chapter 3: Z-Dependent Force Measurements with AFM
10. Chapter 4: Topographic Imaging
11. Chapter 5: Probing Material Properties I: Phase Imaging
12. Chapter 6: Probing Material Properties II: Adhesive Nanomechanics and Mapping Distance-Dependent Interactions
13. Chapter 7: Probing Material Properties III: Lateral Force Methods
14. Chapter 8: Data Post-Processing and Statistical Analysis
15. Chapter 9: Advanced Dynamic Force Methods
16. Appendices
17. Index
دیگران دریافت کردهاند
میکروسکوپ نیروی اتمی برای پژوهشهای انرژی ۲۰۲۲
Atomic Force Microscopy for Energy Research 2022
✨ ضمانت تجربه خوب مطالعه
بازگشت کامل وجه
در صورت مشکل، مبلغ پرداختی بازگردانده می شود.
دانلود پرسرعت
دانلود فایل کتاب با سرعت بالا
ارسال فایل به ایمیل
دانلود مستقیم به همراه ارسال فایل به ایمیل.
پشتیبانی ۲۴ ساعته
با چت آنلاین و پیامرسان ها پاسخگو هستیم.
ضمانت کیفیت کتاب
کتاب ها را از منابع معتیر انتخاب می کنیم.
